低倍率用マルチキャリブレーション図票は、0.08~4Xの低倍率撮像光学系の評価用にデザインされています。テストパターンは評価項目 (パラメータ)別に2種類の基板 (寸法はどちらも100 x 166mm)で構成されます。1枚目の基板は、主にMTFや解像力、及びDOFを測定するためのパターン (直尺スケール、ロンキールーリング (空間周波数固定パターンと同変移パターン))で構成されます。空間周波数5~80本/mmまでのパターンが使用可能です。対する2枚目の基板は、主に撮像面が平面、或いは平面でも光軸に対して角度を持って設置された被写体のディストーションを測定するためのパターン (同心円や格子グリッド)で構成されます。どちらの基板も0.08X~4Xまでの光学倍率範囲であれば、各パラメータの評価毎にパターン位置を動かすことなく視野全体での評価が一時に可能です。DOF測定用に基板自体を斜めに設置するための治具、仕様書 (英文)、及びN.I.S.T. トレーサビリティ認定書付属。キャリングケース (ハード仕様)付き。#58-770は、フロートガラスとオパールガラス基板の両方のターゲットで構成されたセット品です。
Tested Parameter | Pattern Size | Pattern Description |
Resolution/MTF | 154 x 100mm | 11 cycles of 5 to 40 to 5 lp/mm |
Resolution/MTF | 21.8 x 28mm | 50 lp/mm |
Resolution/MTF | 21.8 x 26mm | 60 lp/mm |
Resolution/MTF | 21.9 x 24mm | 70 lp/mm |
Low Mag DOF | 100 x 154mm | 80 lp/mm |
FOV/DOF | 154mm | Linear Scale, 0-154mm, 0.25mm pitch |
Distortion | 80 x 80mm | 5, 10, 15, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80, & 90mm Diameter Circles |
Distortion | 80 x 80mm | 1, 2 & 4mm Pitch |
Blooming | 115 x 20mm | Positive and Negative Circles & Squares |
もしくは 現地オフィス一覧をご覧ください
クイック見積りツール
商品コードを入力して開始しましょう
Copyright 2023, エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社
[東京オフィス] 〒113-0021 東京都文京区本駒込2-29-24 パシフィックスクエア千石 4F
[秋田工場] 〒012-0801 秋田県湯沢市岩崎字壇ノ上3番地