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低倍率用マルチキャリブレーション図票

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  • 光学倍率 0.08X~4Xの低倍率マシンビジョンシステム用にデザイン
  • 透過、及び反射照明のどちらにも対応
  • MTF, 解像力, DOF (被写界深度), FOV (実視野), ディストーションの評価が可能
  • NIST トレーサビリティ認定証付属

低倍率用マルチキャリブレーション図票は、0.08~4Xの低倍率撮像光学系の評価用にデザインされています。テストパターンは評価項目 (パラメータ)別に2種類の基板 (寸法はどちらも100 x 166mm)で構成されます。1枚目の基板は、主にMTFや解像力、及びDOFを測定するためのパターン (直尺スケール、ロンキールーリング (空間周波数固定パターンと同変移パターン))で構成されます。空間周波数5~80本/mmまでのパターンが使用可能です。対する2枚目の基板は、主に撮像面が平面、或いは平面でも光軸に対して角度を持って設置された被写体のディストーションを測定するためのパターン (同心円や格子グリッド)で構成されます。どちらの基板も0.08X~4Xまでの光学倍率範囲であれば、各パラメータの評価毎にパターン位置を動かすことなく視野全体での評価が一時に可能です。DOF測定用に基板自体を斜めに設置するための治具、仕様書 (英文)、及びN.I.S.T. トレーサビリティ認定書付属。キャリングケース (ハード仕様)付き。#58-770は、フロートガラスとオパールガラス基板の両方のターゲットで構成されたセット品です。

技術情報

 
Tested Parameter Pattern Size Pattern Description
Resolution/MTF 154 x 100mm 11 cycles of 5 to 40 to 5 lp/mm
Resolution/MTF 21.8 x 28mm 50 lp/mm
Resolution/MTF 21.8 x 26mm 60 lp/mm
Resolution/MTF 21.9 x 24mm 70 lp/mm
Low Mag DOF 100 x 154mm 80 lp/mm
FOV/DOF 154mm Linear Scale, 0-154mm, 0.25mm pitch
Distortion 80 x 80mm 5, 10, 15, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80, & 90mm Diameter Circles
Distortion 80 x 80mm 1, 2 & 4mm Pitch
Blooming 115 x 20mm Positive and Negative Circles & Squares
 
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