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Jenoptik Silverline fθレンズ 170mm 355nm

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商品コード #16-771 5-7営業日
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焦点距離 FL (mm):
170.00
基板: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More
Fused Silica (Corning 7980)
モデルナンバー:
586840
最大直径 (mm):
146 +0/-0.2
スキャン角度 (°):
±25
スキャンフィールド (mm):
100 x 100
固定用ねじ径:
M85 x 1
テレセントリシティ (°):
F-Theta Only: 4.80
With Scanner: 4.80
タイプ:
JENar Silverline F-Theta
自重 (g):
1850
作動距離 (mm):
235.8
補足:
Damage Warning: Not recommended for picosecond and femtosecond laser pulses.
波長範囲 (nm):
355
Protective Window:
#17-698: One Included
メーカー:
Jenoptik
損傷閾値, 設計上: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
1.0 J/cm2 * (τ/[ns])0.40
1.0 MW/cm2
スキャンフィールド径 (mm):
140
X/Y ミラー角度 (°):
±8.9
フランジバック距離 (mm):
315.8
集光スポット径 1/e2 (μm):
11
GDD スペック (fs²):
8490
入射ビーム径 1/e2 (mm):
10
最大全長 (mm):
106.6
損傷閾値, パルス:
1.0 J/cm2 * (τ/[ns])0.40
損傷閾値, CW:
1.0 MW/cm2

法規制対応状況

RoHS 2011/65:
適合証明書:

製品群全体の紹介

Jenoptik JENar™ Silverline™ fシータ (fΘ) スキャンレンズは、フラットフィールドの像面を提供し、低吸収の合成石英基板の採用により、ハイパワーレーザーアプリケーションに最適にします。このfシータレンズは、動的な冷却なしで4kWまでのビームパワーに対応する高い損傷閾値があり、355nm から 1100nm までの様々な波長域用をラインナップします。328mm x 328mm までの大きな加工エリアに、低テレセントリックエラーと回折限界の像品質をもつ本レンズは、スキャン範囲全体にわたってスポットの高い一貫性とスループットの向上を可能にします。パテント取得の積み重ね可能な取り付け技術を採用する本レンズは、熱応力を補償し、光学部品の安定性を改善するため、OEMシステムでの高精度な調整と位置制御を確実にします。Jenoptik JENar™ Silverline™ fシータ (fΘ) スキャンレンズは、高出力で短パルスのNd:YAG、Yb:ドープ、ファイバーレーザー光源を必要とするアプリケーション用に特に開発されており、ガルバノメータ―ビームエキスパンダーと組み合わせて使用します。

アプリケーション的に、当社のウェブサイトに掲載されていない Jenoptik JENar™ fシータ (fΘ) スキャンレンズか Jenoptik JENar™ Silverline™ fシータ (fΘ) スキャンレンズ が必要な場合はお問い合わせください。

 
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