製品がカートに追加されました
Sub-angstrom surface roughness metrology with the white light interferometer"
Shawn Iles and Jayson Nelson
SPIE
11/15/2019 5:00:00 AM
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11175/1117519/Sub-angstrom-surface-roughness-metrology-with-the-white-light-interferometer/10.1117/12.2536683.full
このコンテンツはお役に立ちましたか?
 
販売や技術サポート
 
もしくは 現地オフィス一覧をご覧ください
簡単便利な
クイック見積りツール
商品コードを入力して開始しましょう