光学素子のキズ (Scratch)やブツ (Dig)の大きさを定量化するのに最適な見本です。キズとブツの見本以外にも、60mm長のスケールや6種類の異なる大きさを持つ格子パターン、また6種類の異なる空間周波数を持つブロックで構成されます (基板一枚当たり)。格子パターンは、不均一な形状を持った欠陥部のエリアを測定するのに用います。欠陥対象エリアの平方根が、そのエリアに対応するグレードNo.になります。本製品は、2種類の基板 (基板1と基板2)のセット品になります。基板1は0.004~0.040までのグレードNo.で構成されます。対する基板2は0.040~0.400の構成です。また本製品には、ご用途に合わせて第一面セットと第二面セットが選べます。第一面セットは、各パターンが基板の表面側 (第一面側)にあります。これに対し第二面セットは、基板の裏面側 (第二面側)にあります。更に第一面セットには、ポジパターンとネガパターンの2種類が選べます。ポジパターンは、透明基板上に不透明パターンを蒸着したもの、対するネガパターンは、ポジパターンを反転したものです。
補足: NIST トレーサブル認定証付き。
Plate 1 | |||||
Grade No. | Circ. Diameter (μm) | Dim. of Scratch (μm) | Freq. Block (lp/mm) | Grid Block Line W (μm) | Grid Block Line Spacing (μm) |
0.004 | 4.5 | 1 x 16 | 500 | 1 | 4.5 |
0.006 | 7 | 1.6 x 25 | 312.5 | 1.6 | 7 |
0.010 | 11 | 2.5 x 40 | 200 | 2.5 | 11 |
0.016 | 18 | 4 x 63 | 125 | 4 | 18 |
0.025 | 28 | 6.3 x 100 | 80 | 6.3 | 28 |
0.040 | 45 | 10 x 160 | 50 | 10 | 45 |
Plate 2 | |||||
Grade No. | Circ. Diameter (μm) | Dim. of Scratch (μm) | Freq. Block (lp/mm) | Grid Block Line W (μm) | Grid Block Line Spacing (μm) |
0.040 | 45 | 10 x 160 | 50 | 10 | 45 |
0.060 | 70 | 16 x 225 | 31.25 | 10 | 70 |
0.100 | 110 | 25 x 400 | 20 | 10 | 110 |
0.160 | 180 | 40 x 630 | 12.5 | 10 | 180 |
0.250 | 280 | 63 x 1000 | 8 | 10 | 280 |
0.400 | 450 | 100 x 1600 | 5 | 10 | 450 |
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