DataRay M² 測定システムは、オール・イン・ワンのM² 測定システムにするため、ビームプロファイリングカメラを自動移動ステージと組み合わせ、同ステージ上に取り付けています。M² (ビーム品質係数) は、完全なTEM00ビームに対する現実のレーザービームの不完全性度合を特徴付けるもので、レーザーかレーザーシステム製造での共通した許容判定基準になります。このシステムは、ISO 11146に準拠した測定を実行するために取り付けたビームプロファイラをビームウエスト内で移動させ、50mmか200mmの移動量、および355 - 1150nmか2000 - 16000nmの2つの波長範囲オプションをラインナップします。DataRay M² 測定システムは、セットアップの容易なUSB3 システム、直感的なソフトウェアインターフェースでデザインされており、豊富なアクセサリー製品を別売りで用意します。この測定システムは、パルスレーザーやCWレーザーの広範なM²を測定するのに最適です。
Please select your shipping country to view the most accurate inventory information, and to determine the correct Edmund Optics sales office for your order.
もしくは 現地オフィス一覧をご覧ください
クイック見積りツール
商品コードを入力して開始しましょう
Copyright 2023, エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社
[東京オフィス] 〒113-0021 東京都文京区本駒込2-29-24 パシフィックスクエア千石 4F
[秋田工場] 〒012-0801 秋田県湯沢市岩崎字壇ノ上3番地