近赤外 (NIR) 用精密非球面レンズとTECHSPEC® LS シリーズ ラインスキャンレンズ

Edmund Optics^® (EO)の日本法人、エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社は、 市場の発展とニーズを反映し、製品ラインナップを継続的に拡張している。 今回、同社は新たに近赤外 (NIR) 用精密非球面レンズとTECHSPEC^® LS シリーズ ラインスキャンレンズの販売を開始した。

＊写真は近赤外 (NIR) 用精密非球面レンズ

近赤外 (NIR) 用精密非球面レンズは、球面収差を取り除くよう設計・最適化されている。CNC加工により研磨され、NIRスペクトルに対して高精度のパフォーマンスを実現する。ビーム形状を維持する必要のあるアプリケーション向けの低開口数 (NA) デザインと、集光アプリケーション用の高開口数 (NA) デザインをラインナップ。

TECHSPEC^® LS シリーズ ラインスキャンレンズは、画素サイズ5μmの82mm長 16kラインスキャンカメラや62.5mm長 12kラインスキャンカメラ用にデザインされている。低ディストーション設計で、同軸落射照明用もしくはエリアスキャンセンサー用に使用できる。絞りはF2.9からF22まで調節でき、絞り位置も固定可能。V溝マウントを用いることで調整やアライメントも容易。画像全体にわたり均一かつ高解像力な性能をもつTECHSPEC^® LS シリーズ ラインスキャンレンズは、電子部品、フラットパネルディスプレイ、半導体ウェハー検査などの用途に理想的である。

上記の新製品のほか、エドモンド・オプティクスの新製品については、edmundoptics.jpの新製品ページに掲載されている。